紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計，UV-A單(dan)通道紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計適(shi)用於光化學、高分子(zi)材料(liao)老(lao)化(hua)、探傷(shang)、紫外(wai)光源、植(zhi)物(wu)栽培(pei)、大規模(mo)集成電(dian)路(lu)光(guang)刻(ke)等領域的紫外(wai)輻(fu)照(zhao)度(du)測(ce)量工作(zuo)。紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計有(you)兩個(ge)測(ce)量探頭(tou)365nm探頭(tou)和(he)420nm探頭(tou)，每(mei)臺儀器(qi)的探*和(he)儀器(qi)號(hao)是壹(yi)壹(yi)對(dui)應(ying)的,不能(neng)將不同儀器(qi)的探頭(tou)互(hu)換使(shi)用。

紫外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)、UV-A型紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計適(shi)用於光化學、高分子(zi)材料(liao)老(lao)化(hua)、探傷(shang)、紫外(wai)光源、植(zhi)物(wu)栽培(pei)、大規模(mo)集成電(dian)路(lu)光(guang)刻(ke)等領域的紫外(wai)輻(fu)照(zhao)度(du)測(ce)量工作(zuo)。紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計有(you)兩個(ge)測(ce)量探頭(tou)365nm探頭(tou)和(he)420nm探頭(tou)，每(mei)臺儀器(qi)的探*和(he)儀器(qi)號(hao)是壹(yi)壹(yi)對(dui)應(ying)的,不能(neng)將不同儀器(qi)的探頭(tou)互(hu)換使(shi)用。

上(shang)海(hai)水(shui)下照(zhao)度(du)計(ji)的傳感器(qi)配制(zhi)V（λ）修(xiu)正濾(lv)光片(pian)，符(fu)合照(zhao)明委員會(hui)（CIE）定(ding)的人(ren)眼(yan)視覺(jiao)特(te)性(xing)，並(bing)配有(you)球(qiu)面(mian)余弦校(xiao)正器(qi)，使(shi)傳感器(qi)對(dui)不同角度(du)光(guang)的響(xiang)應(ying)值(zhi)符(fu)合余(yu)弦(xian)法則(ze)，對(dui)點(dian)、線、面(mian)光源及(ji)各(ge)種(zhong)不同顏色(se)的可(ke)見(jian)光能(neng)準(zhun)確(que)測(ce)量。

上(shang)海(hai)ZDS-10W型(xing)水(shui)下照(zhao)度(du)計(ji)廠家、水(shui)下照(zhao)度(du)計(ji)的傳感器(qi)配制(zhi)V（λ）修(xiu)正濾(lv)光片(pian)，符(fu)合照(zhao)明委員會(hui)（CIE）定(ding)的人(ren)眼(yan)視覺(jiao)特(te)性(xing)，並(bing)配有(you)球(qiu)面(mian)余弦校(xiao)正器(qi)，使(shi)傳感器(qi)對(dui)不同角度(du)光(guang)的響(xiang)應(ying)值(zhi)符(fu)合余(yu)弦(xian)法則(ze)，對(dui)點(dian)、線、面(mian)光源及(ji)各(ge)種(zhong)不同顏色(se)的可(ke)見(jian)光能(neng)準(zhun)確(que)測(ce)量。

上(shang)海(hai)供應(ying)722可見(jian)分光(guang)光(guang)度(du)計(ji)簡介(jie)： 能(neng)在(zai)可(ke)見(jian)光譜(pu)區(qu)域內對(dui)物(wu)質作(zuo)定性(xing)定(ding)量分析。 采(cai)用光柵(zha)單(dan)色(se)器(qi)、具(ju)有(you)波(bo)長精(jing)度(du)高，單(dan)色(se)性好等優點(dian)。

北(bei)京(jing)UV-B型(xing)紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計（雙(shuang)通道）價(jia)格(ge)，紫外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)用於殺菌(jun)、光(guang)刻、水(shui)處理、醫(yi)療(liao)、育種(zhong)等(deng)領(ling)域的紫外(wai)輻(fu)照(zhao)度(du)測(ce)量工作(zuo),紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計有(you)兩個(ge)測(ce)量探頭(tou)254nm 探頭(tou)和(he)297nm探頭(tou)，254nm探頭(tou)的儀器(qi)只能在(zai)環境光(guang)照(zhao)度(du)較(jiao)小的條(tiao)件(jian)下對(dui)殺(sha)菌(jun)燈(deng)（低(di)壓汞燈）測(ce)量有(you)效(xiao)；每(mei)臺儀器(qi)的探*和(he)儀器(qi)號(hao)是壹(yi)壹(yi)對(dui)應(ying)的,不能(neng)將不同儀器(qi)的探頭(tou)互(hu)換使(shi)用。

紫外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)適用於光化學、高分子(zi)材料(liao)老(lao)化(hua)、探傷(shang)、紫外(wai)光源、植(zhi)物(wu)栽培(pei)、大規模(mo)集成電(dian)路(lu)光(guang)刻(ke)等領域的紫外(wai)輻(fu)照(zhao)度(du)測(ce)量工作(zuo)。紫外(wai)輻(fu)照(zhao)計有(you)兩個(ge)測(ce)量探頭(tou)365nm探頭(tou)和(he)420nm探頭(tou)，每(mei)臺儀器(qi)的探*和(he)儀器(qi)號(hao)是壹(yi)壹(yi)對(dui)應(ying)的,不能(neng)將不同儀器(qi)的探頭(tou)互(hu)換使(shi)用。