紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計，供應紫(zi)外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)適(shi)用於光(guang)化學(xue)、高(gao)分(fen)子(zi)材料老化、探(tan)傷(shang)、紫(zi)外(wai)光(guang)源、植物(wu)栽(zai)培、大(da)規(gui)模集(ji)成(cheng)電(dian)路光(guang)刻(ke)等領(ling)域(yu)的紫(zi)外(wai)輻照(zhao)度(du)測(ce)量(liang)工(gong)作(zuo)。紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計有(you)兩個(ge)測量探(tan)頭365nm探(tan)頭和420nm探(tan)頭，每(mei)臺儀器的探(tan)*和儀器號(hao)是壹(yi)壹對(dui)應的,不(bu)能將不(bu)同(tong)儀(yi)器的探(tan)頭互換使用。

紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計，供應紫(zi)外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)適(shi)用於光(guang)化學(xue)、高(gao)分(fen)子(zi)材料老化、探(tan)傷(shang)、紫(zi)外(wai)光(guang)源、植物(wu)栽(zai)培、大(da)規(gui)模集(ji)成(cheng)電(dian)路光(guang)刻(ke)等領(ling)域(yu)的紫(zi)外(wai)輻照(zhao)度(du)測(ce)量(liang)工(gong)作(zuo)。紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計有(you)兩個(ge)測量探(tan)頭365nm探(tan)頭和420nm探(tan)頭，每(mei)臺儀器的探(tan)*和儀器號(hao)是壹(yi)壹對(dui)應的,不(bu)能將不(bu)同(tong)儀(yi)器的探(tan)頭互換使用。
紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計，供應紫(zi)外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)技術參(can)數(shu)：1、輻照(zhao)度(du)測(ce)量(liang)範圍(wei)：(0.1～199.9×10³)μW/cm²
2、外(wai)帶外(wai)區(qu)雜(za)光(guang)：UV365:小(xiao)於(yu)0.02％；UV420：小(xiao)於(yu)0.02％
3、準確(que)度(du)：±10％ (相(xiang)對(dui)於(yu)NIM 標準(zhun))
4、角度(du)響應特性(xing)：符(fu)合國家(jia)二(er)級光照(zhao)度(du)計(ji)標準(zhun)
5、響應時(shi)間：1 秒(miao)
6、使(shi)用環境(jing)：溫度(du)(0～40)℃；濕(shi)度(du)<85%RH
7、尺(chi)寸和重(zhong)量(liang)：180mm×80mm×36mm；0.2kg
8、電(dian)源：6F22 型9V 積層(ceng)電(dian)池壹只 
波長範圍(wei)及(ji)峰值波長：
（1）UV－365 探(tan)頭：（光譜(pu)響應曲線見(jian)圖） λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420 探(tan)頭：（光譜(pu)響應曲線見(jian)圖） λ：(375～475)nm；λP＝420nm

上海隆拓儀(yi)器專業(ye)供應UV-A型紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計(單通道(dao)) 紫(zi)外(wai)輻照(zhao)計,紫(zi)外(wai)線照(zhao)度(du)計(ji)