礦(kuang)用YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)和YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)兩(liang)種(zhong)。用於(yu)非(fei)腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體微(wei)小壓力量值(zhi)的傳(chuan)遞(di)，校準和測(ce)試。可(ke)測(ce)量微(wei)小(xiao)氣(qi)體的正(zheng)壓、負壓和差(cha)壓。YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)可(ke)以作(zuo)為(wei)標準器用來(lai)校(xiao)準其它(ta)壓力計(ji)和供實(shi)驗(yan)室和計(ji)量單(dan)位(wei)使用。

氣(qi)體壓差(cha)變送器，上(shang)海(hai)微(wei)壓差(cha)變送器選(xuan)用飛(fei)利(li)浦芯(xin)片(pian)技術，具(ju)有靈(ling)敏度(du)高(gao)、精度(du)高(gao)、抗(kang)過載能力強。進(jin)口(kou)傳(chuan)感器(qi)制造(zao)，傳(chuan)感器(qi)和(he)放(fang)大電路高度(du)集成；壓鑄(zhu)合金(jin)鋁(lv)表(biao)面殼(ke)體(ti)，電(dian)路零(ling)點和(he)增(zeng)益無(wu)須(xu)調(tiao)整；抗(kang)幹擾能(neng)力強，耐酸堿(jian)，長(chang)期穩(wen)定可(ke)靠(kao)。

YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)YJB系列補償式(shi)微壓計(ji)包(bao)括(kuo)YJB-1500補償式(shi)微壓計(ji)和兩(liang)種(zhong)。用於(yu)非(fei)腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體微(wei)小壓力量值(zhi)的傳(chuan)遞(di)，校準和測(ce)試。可(ke)測(ce)量微(wei)小(xiao)氣(qi)體的正(zheng)壓、負壓和差(cha)壓。可(ke)以作(zuo)為(wei)標準器用來(lai)校(xiao)準其它(ta)壓力計(ji)和供實(shi)驗(yan)室和計(ji)量單(dan)位(wei)使用。YJB-1500補償式(shi)微壓計(ji)，傾斜(xie)式(shi)微壓計(ji)，數字大氣(qi)壓計(ji)上海(hai)隆(long)拓儀器專(zhuan)業(ye)供應(ying)。

補償式(shi)微壓計(ji)/YJB-1500/YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)主要(yao)用於(yu)非(fei)腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體微(wei)小壓力量值(zhi)的傳(chuan)遞(di)，校準和測(ce)試。可(ke)測(ce)量微(wei)小(xiao)氣(qi)體的正(zheng)壓、負壓和差(cha)壓。它(ta)可(ke)以作(zuo)為(wei)標準器用來(lai)校(xiao)準其它(ta)壓力計(ji)和供實(shi)驗(yan)室和計(ji)量單(dan)位(wei)使用。YJB-1500補償式(shi)微壓計(ji)YJB-2500補償式(shi)微壓計(ji)，傾斜(xie)式(shi)微壓計(ji)，數字大氣(qi)壓計(ji)上海(hai)隆(long)拓儀器專(zhuan)業(ye)供應(ying)。

補償微(wei)壓計(ji)YJB-1500由微調(tiao)部分、水準觀測(ce)部分、反光鏡部分及外(wai)殼部分組(zu)成。1、微調(tiao)部分---由刻有(you)200等分的微調(tiao)盤，固(gu)定在長(chang)螺桿(gan)上，長(chang)螺桿(gan)動，水(shui)匣做(zuo)上升或下降運(yun)動(dong)，在水匣(xia)靜(jing)壓可(ke)、接嘴(zui)上裝有(you)示度(du)準塊(kuai)，示度(du)準塊(kuai)在度(du)板(ban)及(ji)字板中間(jian)移動來指(zhi)示出水匣的位移高度(du)。

二級(ji)補償微(wei)壓計(ji).補償微(wei)壓計(ji)廠家(jia)，BWY-250補償微(wei)壓計(ji)主要(yao)用於(yu)非(fei)腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體微(wei)小壓力量值(zhi)的傳(chuan)遞(di)，校準和測(ce)試。可(ke)測(ce)量微(wei)小(xiao)氣(qi)體的正(zheng)壓、負壓和差(cha)壓。可(ke)以作(zuo)為(wei)標準器，也(ye)可(ke)以作(zuo)為(wei)工作(zuo)器具(ju)。用來(lai)校(xiao)準其它(ta)壓力計(ji)和供實(shi)驗(yan)室和計(ji)量單(dan)位(wei)使用。